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CMOS smart sensor for monitoring the quality of perishables

UENO, Ken ; HIROSE, Tetsuya ; et al.
In: 2006 Symposium on VLSI circuitsIEEE journal of solid-state circuits 42(4):798-803; Jg. 42 (2007) 4, S. 798-803
Online Konferenz - print, 9 ref

Titel:
CMOS smart sensor for monitoring the quality of perishables
Autor/in / Beteiligte Person: UENO, Ken ; HIROSE, Tetsuya ; ASAI, Tetsuya ; AMEMIYA, Yoshihito
Link:
Quelle: 2006 Symposium on VLSI circuitsIEEE journal of solid-state circuits 42(4):798-803; Jg. 42 (2007) 4, S. 798-803
Veröffentlichung: New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2007
Medientyp: Konferenz
Umfang: print, 9 ref
ISSN: 0018-9200 (print)
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Generalites
  • General
  • Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie
  • Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy
  • Techniques et équipements généraux
  • General equipment and techniques
  • Capteurs (chimiques, optiques, électriques, de mouvement, de gaz, etc.); télédétection
  • Sensors (chemical, optical, electrical, movement, gas, etc.); remote sensing
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide
  • Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
  • Transistors
  • Circuits intégrés
  • Integrated circuits
  • Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais
  • Design. Technologies. Operation analysis. Testing
  • Capteur intelligent
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  • Measurement sensor
  • Captador medida
  • Circuit intégré CMOS
  • CMOS integrated circuits
  • Consommation énergie électrique
  • Power consumption
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  • Temperature dependence
  • Electronique faible puissance
  • Low-power electronics
  • Endommagement
  • Damaging
  • Deterioración
  • Technologie MOS complémentaire
  • Complementary MOS technology
  • Tecnología MOS complementario
  • Transistor MOSFET
  • MOSFET
  • 0707D
  • CMOS
  • perishable
  • quality guarantee
  • smart sensor
  • subthreshold current
  • translinear
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Conference Paper
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Department of Electrical Engineering, Hokkaido University, Sapporo 060-0814, Japan
  • Rights: Copyright 2007 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics ; Metrology

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