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Deposition of DLC:H films by C-sputtering assisted CH4-Ar PE-CVD technique

YOKOTA, K ; NAKATANI, T ; et al.
In: EPJ. Applied physics (Print), Jg. 39 (2007), Heft 1, S. 17-21
academicJournal - print, 18 ref

Titel:
Deposition of DLC:H films by C-sputtering assisted CH4-Ar PE-CVD technique
Autor/in / Beteiligte Person: YOKOTA, K ; NAKATANI, T ; MIYASHITA, F
Link:
Zeitschrift: EPJ. Applied physics (Print), Jg. 39 (2007), Heft 1, S. 17-21
Veröffentlichung: Les Ulis; Berlin: EDP Sciences, Springer, 2007
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 18 ref
ISSN: 1286-0042 (print)
Schlagwort:
  • Physics
  • Physique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Propriétés et matériaux diélectriques, piézoélectriques et ferroélectriques
  • Dielectrics, piezoelectrics, and ferroelectrics and their properties
  • Couches minces diélectriques
  • Dielectric thin films
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Science des matériaux
  • Materials science
  • Matériaux particuliers
  • Specific materials
  • Fullerènes et matériaux apparentés; diamants, graphite
  • Fullerenes and related materials; diamonds, graphite
  • Méthodes de dépôt de films et de revêtements; croissance de films et épitaxie
  • Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy
  • Dépôt chimique en phase vapeur (incluant le cvd activé par plasma, mocvd, etc.)
  • Chemical vapor deposition (including plasma-enhanced cvd, mocvd, etc.)
  • Argon
  • Carbone adamantin
  • Diamond-like carbon
  • Constante diélectrique
  • Permittivity
  • Diamant
  • Diamonds
  • Dépôt chimique phase vapeur
  • CVD
  • Etude expérimentale
  • Experimental study
  • Matériau diélectrique
  • Dielectric materials
  • Méthane
  • Methane
  • Méthode PECVD
  • PECVD
  • Plasma
  • 8105U
  • 8115G
  • Substrat Silicium
  • Time: 7755
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Faculty of Engineering and HRC, Kansai University, Suita, Osaka, 564-8680, Japan ; Faculty of Informatics, Kansai University, Takatsuki, Osaka, 569-1095, Japan
  • Rights: Copyright 2007 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics and materials science ; Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties

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