Amplitude modulated step scan Fourier transform photocurrent spectroscopy of partly compensated B-doped CVD diamond thin films

REMES, Z ; NESLADEK, M ; et al.

In: Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print) 204(9):2950-2956; Jg. 204 (2007) 9, S. 2950-2956

Konferenz - print, 15 ref

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We report on the development of amplitude modulated step-scan Fourier-transform photocurrent spectroscopy (AMFTPS) as a sensitive tool for detecting shallow and deep electronic states in high resistive semiconductors. We present fundamental aspects of dual beam photoconductivity (DBP) and AMFTPS and apply these methods to detect the defect-induced localized electronic levels in the energy gap of boron doped epitaxial CVD diamond thin films grown on single crystalline type Ib (111) oriented diamond substrates. The mechanism of acceptor passivation upon oxygen addition during CVD growth in B-doped films is discussed.

Titel:	Amplitude modulated step scan Fourier transform photocurrent spectroscopy of partly compensated B-doped CVD diamond thin films
Autor/in / Beteiligte Person:	REMES, Z ; NESLADEK, M ; BERGONZO, P ; BARJON, J ; JOMARD, F
Link:	View record from PASCAL Archive
Quelle:	Physica status solidi. A, Applications and materials science (Print) 204(9):2950-2956; Jg. 204 (2007) 9, S. 2950-2956
Veröffentlichung:	Berlin: Wiley-VCH, 2007
Medientyp:	Konferenz
Umfang:	print, 15 ref
ISSN:	1862-6300 (print)
Schlagwort:	Crystallography Cristallographie cristallogenèse Electronics Electronique Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjects Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjets Condensed state physics Physique de l'état condensé Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Physique Physics Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties Etats électroniques Electron states Niveaux d'impuretés et de défauts Impurity and defect levels Semiconducteurs élémentaires Elemental semiconductors Addition bore Boron additions Centre accepteur Acceptor center Centro aceptor Couche mince Thin films Courant photoélectrique Photocurrents Diamant Diamonds Dopage Doping Défaut Defects Dépôt chimique phase vapeur CVD Etat défaut Defect states Monocristal Monocrystals Passivation Semiconducteur Semiconductor materials Spectre transformée Fourier Fourier transform spectra 7155C
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Conference Paper File Description: text Language: English Author Affiliations: Institute of Physics, Academy of Sciences of the Czech Republic, Cukrovarnicka 10, 16200 Praha, Czech Republic ; LIST (CAE-Recherche Technologique)/DETECS/SSTM/LTD, CAE/Saclay, Gif-sur-Yvette, France ; Université de Versailles St-Quentin-en-Yvelines, 1 place Aristide Briand, 92195 Meudon, France Rights: Copyright 2007 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties

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