Einzeltreffer — DigiBib

We describe measurements of the X-ray reflectance in the range 2-10 keV of samples representative of coated silicon wafers that are proposed for the fabrication of the X-ray evolving universe spectrometer (XEUS) mission. We compare the reflectance of silicon samples coated with bare Pt, with that for samples with an additional 10 nm thick carbon over-coating. We demonstrate a significant improvement in reflectance in the energy range ∼1-4 keV, and at a grazing incidence angle of 10 mrad (0.57°). We consider the resulting effective area that could be attained with an optimized design of the XEUS telescope. Typically an improvement of 10-60% in effective area, depending on photon energy, can be achieved using the carbon overcoat.

Titel:	Influence of a carbon over-coat on the X-ray reflectance of XEUS mirrors
Autor/in / Beteiligte Person:	LUMB, D. H ; CHRISTENSEN, F. E ; JENSEN, C. P ; KRUMREY, M
Link:	E-Journal im Bestand der UB Hagen? View record from PASCAL Archive
Zeitschrift:	Optics communications, Jg. 279 (2007), Heft 1, S. 101-105
Veröffentlichung:	Amsterdam: Elsevier Science, 2007
Medientyp:	academicJournal
Umfang:	print, 14 ref
ISSN:	0030-4018 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Optics Optique Telecommunications Télécommunications Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Physique Physics Generalites General Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy Instrumentation et techniques x et γ X- and γ-ray instruments and techniques Sources, miroirs, réseaux et détecteurs dans le domaine x et γ X- and γ-ray sources, mirrors, gratings and detectors Terre, ocean, espace Earth, ocean, space Astronomie Astronomy Astronomie fondamentale et astrophysique. Instrumentation, techniques, et observations astronomiques Fundamental astronomy and astrophysics. Instrumentation, techniques, and astronomical observations Divers (incluant l'archéoastronomie) Historical astronomy and archaeoastronomy; and other topics in fundamental astronomy and astrophysics; instrumentation, techniques, and astronomical observations Angle incidence Incidence angle Carbone Carbon Facteur réflexion Reflectivity Incidence rasante Grazing incidence Incidencia rasante Miroir RX X-ray mirror Méthode mesure Measuring methods Propriété optique Optical properties Revêtement métallique Metal coating Revestimiento metálico Silicium Silicon Spectromètre RX X-ray spectrometers Télescope Telescopes 0785F Time: 9555
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Article File Description: text Language: English Author Affiliations: Advanced Concepts and Science Payloads Office, European Space Agency, ESTEC, Postbus 299, 2200AG Noordwijk, Netherlands ; Danish National Space Centre, Juliane Maries Vej 30, 2100 Copenhagen, Denmark ; Physikalisch -Technische Bundesanstalt, Abbestrasse 2-12, 10587 Berlin, Germany Rights: Copyright 2007 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Astronomy ; Metrology

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Influence of a carbon over-coat on the X-ray reflectance of XEUS mirrors