Zum Hauptinhalt springen

Temperature dependence of oriented growth of Pb[Yb1/2Nb1/2]O3-PbTiO3 thin films deposited on LNO/Si substrates

ZHOU, Q. F ; SHUNG, K. K ; et al.
In: Thin solid films, Jg. 517 (2008), Heft 2, S. 695-698
academicJournal - print, 20 ref

Titel:
Temperature dependence of oriented growth of Pb[Yb1/2Nb1/2]O3-PbTiO3 thin films deposited on LNO/Si substrates
Autor/in / Beteiligte Person: ZHOU, Q. F ; SHUNG, K. K ; ZHANG, Q. Q ; DJUTH, F. T
Link:
Zeitschrift: Thin solid films, Jg. 517 (2008), Heft 2, S. 695-698
Veröffentlichung: Amsterdam: Elsevier, 2008
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 20 ref
ISSN: 0040-6090 (print)
Schlagwort:
  • Crystallography
  • Cristallographie cristallogenèse
  • Metallurgy, welding
  • Métallurgie, soudage
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Propriétés et matériaux diélectriques, piézoélectriques et ferroélectriques
  • Dielectrics, piezoelectrics, and ferroelectrics and their properties
  • Matériaux diélectriques, piézoélectriques, ferroélectriques et antiferroélectriques
  • Dielectric, piezoelectric, ferroelectric and antiferroelectric materials
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Science des matériaux
  • Materials science
  • Méthodes de dépôt de films et de revêtements; croissance de films et épitaxie
  • Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy
  • Théorie et modèles de la croissance de films
  • Theory and models of film growth
  • Epitaxie en phase liquide; dépôt en phase liquide (phases fondues, solutions et couches superficielles sur des liquides)
  • Liquid phase epitaxy; deposition from liquid phases (melts, solutions, and surface layers on liquids)
  • Analyse diffraction RX
  • X-ray diffraction analysis
  • Composé organométallique
  • Organometallic compounds
  • Couche mince
  • Thin films
  • Diffraction RX
  • XRD
  • Dépendance température
  • Temperature dependence
  • Matériau piézoélectrique
  • Piezoelectric materials
  • Mécanisme croissance
  • Growth mechanism
  • Mecanismo crecimiento
  • Oxyde de lanthane
  • Lanthanum oxide
  • Lantano óxido
  • Oxyde de nickel
  • Nickel oxide
  • Níquel óxido
  • Procédé sol gel
  • Sol-gel process
  • Propriété diélectrique
  • Dielectric properties
  • Recuit thermique rapide
  • Rapid thermal annealing
  • Recuit thermique
  • Thermal annealing
  • Recocido térmico
  • Température recuit
  • Annealing temperature
  • Temperatura recocido
  • Texture
  • Titanate de plomb
  • Lead titanates
  • Traitement thermique
  • Heat treatments
  • 6855A
  • 8115L
  • LaNiO3
  • PbTiO3
  • Substrat silicium
  • Oriented growth
  • Piezoelectric films
  • Sol-gel deposition
  • X-ray diffraction
  • Time: 7784
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: NIH Transducer Resource Center and Department of Biomedical Engineering, University of Southern California, Los Angeles, CA 90089-1111, United States ; Geospace Research, Inc, El Segundo, CA 90245, United States
  • Rights: Copyright 2009 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics and materials science ; Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -