Detection of trace impurities in Cu(In, Ga)Se2 thin film solar cells by laser ablation ICP-MS

DARGEL, Rainer ; HEINEMEYER, Frank ; et al.

In: Mikrochimica acta (1966. Print), Jg. 165 (2009), Heft 3-4, S. 265-270

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CIGS solar cells (CIGS: CuInSe2, doped with gallium) on flexible glass fibre substrates were investigated to determine a possible migration of compounds from the substrate through the back contact layer into the absorber layer. We employed laser ablation ICP-MS to perform depth profile analysis as this technique combines ease of sample preparation with high sensitivity and moderate depth resolution. Careful optimization of the fluence and repetition rate of the laser system was necessary to ensure sufficient depth resolution in order to be able to relate the transient signals to the different layers. The results show that apart from sodium and small amounts of titanium no elements have migrated into the absorber layer. This was confirmed by micro-PIXE measurements on cross sections of the cell.

Titel:	Detection of trace impurities in Cu(In, Ga)Se2 thin film solar cells by laser ablation ICP-MS
Autor/in / Beteiligte Person:	DARGEL, Rainer ; HEINEMEYER, Frank ; KÖNTGES, Marc ; VOGT, Jürgen ; VOGT, Carla
Link:	Volltext (PDF) View record from PASCAL Archive
Zeitschrift:	Mikrochimica acta (1966. Print), Jg. 165 (2009), Heft 3-4, S. 265-270
Veröffentlichung:	Heidelberg: Springer, 2009
Medientyp:	academicJournal
Umfang:	print, 13 ref
ISSN:	0026-3672 (print)
Schlagwort:	Analytical chemistry Chimie analytique Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Chimie Chemistry Méthodes spectrométriques et optiques Spectrometric and optical methods Analyse trace Trace analysis Análisis huella Cellule solaire Solar cell Célula solar Couche mince Thin film Capa fina Coupe transversale Cross section Corte transverso Elément trace Trace element Elemento traza Gallium Galio Impureté Impurity Impureza Méthode ablation laser Laser ablation technique Méthode couplée Coupled method Método acoplado Optimisation Optimization Optimización Profil profondeur Depth profile Perfil profundidad Préparation échantillon Sample preparation Preparación muestreo Résolution profondeur Depth resolution Resolución profondidad Sensibilité Sensitivity Sensibilidad Sodium Sodio Spectrométrie ICP Inductive coupling plasma spectrometry Espectrometría ICP Spectrométrie RX X ray spectrometry Espectrometría RX Spectrométrie masse Mass spectrometry Espectrometría masa Titane Titanium Titanio Verre Glass Vidrio CIGS LA-ICP-MS PIXE Trace elements
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Article File Description: text Language: English Author Affiliations: Leibniz University of Hannover, Institute for Inorganic Chemistry, Callinstr. 9, 30167 Hannover, Germany ; Institute for Solar Energy Research ISFH, Am Ohrberg 1, 31860 Emmerthal, Germany ; Institute of Physics, University of Leipzig, Faculty of Physics and Earth Science, Institute of Experimental Physics II, Linnéstr. 5, 04102 Leipzig, Germany Rights: Copyright 2009 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Analytical chemistry

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