Einzeltreffer — DigiBib

In this paper an application specific integrated circuit (ASIC) for evaluating the NBTI effects over a wide frequency is described. The circuit is designed to allow measurements in multiple modes, specifically, DC and AC NBTI, on single pFET and on an inverter. The results indicate that AC NBTI is independent of the frequency in the 1 Hz-2 GHz range. Furthermore, the voltage and the stress time acceleration are identical for both AC and DC NBTI stress.

Titel:	A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range
Autor/in / Beteiligte Person:	FERNANDEZ-GARCIA, R ; KACZER, B ; GROESENEKEN, G
Link:	E-Journal im Bestand der UB Hagen? View record from PASCAL Archive
Zeitschrift:	Microelectronics and reliability, Jg. 49 (2009), Heft 8, S. 885-891
Veröffentlichung:	Kidlington: Elsevier, 2009
Medientyp:	academicJournal
Umfang:	print, 11 ref
ISSN:	0026-2714 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Sciences appliquees Applied sciences Appareillage électronique et fabrication. Composants passifs, circuits imprimés, connectique Electronic equipment and fabrication. Passive components, printed wiring boards, connectics Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Circuits intégrés Integrated circuits Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais Design. Technologies. Operation analysis. Testing Circuit intégré CMOS CMOS integrated circuits Circuit intégré Integrated circuit Circuito integrado Circuit à la demande Custom circuit Circuito integrato personalizado Conception circuit Circuit design Diseño circuito Contrainte thermique Thermal stress Tensión térmica Contrainte électrique Electric stress Tensión eléctrica Domaine fréquence GHz GHz range Domaine fréquence Hz Hz range Fiabilité Reliability Fiabilidad Onduleur Inverter Ondulador Instabilité thermique de la polarisation négative Negative bias temperature instability
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Article File Description: text Language: English Author Affiliations: Departament d'Enginyeria Electrònica, Universitat Politècnica de Catalunya, Colom 1, 08222 Terrassa, Spain ; IMEC, Kapeldreef 75, 3001 Leuven, Belgium Rights: Copyright 2009 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Electronics

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

BibTeX Citavi, JabRef, u.a.
(Literaturverwaltung)

PDF kein Volltext!
(Merkzettel, Notizen)

RIS Endnote, Citavi u.a.
(Literaturverwaltung)

MODS
(XML zur Weiterverarbeitung)

oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

Gewünschter Zitations-Stil:

oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

A CMOS circuit for evaluating the NBTI over a wide frequency range