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Loss Measurement of Aluminum Thin-Film Coplanar Waveguide (CPW) Lines at Microwave Frequencies

RAMAZANI, Maliheh ; MILADI, Haddad ; et al.
In: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 57 (2010), Heft 8, S. 2037-2040
Online academicJournal - print, 9 ref

Titel:
Loss Measurement of Aluminum Thin-Film Coplanar Waveguide (CPW) Lines at Microwave Frequencies
Autor/in / Beteiligte Person: RAMAZANI, Maliheh ; MILADI, Haddad ; SHAHABADI, Mahmoud ; MOHAJERZADEH, Shamsoddin
Link:
Zeitschrift: I.E.E.E. transactions on electron devices, Jg. 57 (2010), Heft 8, S. 2037-2040
Veröffentlichung: New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2010
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 9 ref
ISSN: 0018-9383 (print)
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide
  • Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
  • Circuits intégrés
  • Integrated circuits
  • Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais
  • Design. Technologies. Operation analysis. Testing
  • Circuits électriques, optiques et optoélectroniques
  • Electric, optical and optoelectronic circuits
  • Propriétés des circuits
  • Circuit properties
  • Circuits électroniques
  • Electronic circuits
  • Oscillateurs, résonateurs, synthétiseurs
  • Oscillators, resonators, synthetizers
  • Circuits hyperfréquences, circuits intégrés hyperfréquences, lignes de transmission hyperfréquences, circuits à ondes submillimétriques
  • Microwave circuits, microwave integrated circuits, microwave transmission lines, submillimeter wave circuits
  • Circuit MMIC
  • MMIC
  • Circuit intégré hyperfréquence
  • Microwave integrated circuits
  • Circuit intégré monolithique
  • Monolithic integrated circuit
  • Circuito integrado monolítico
  • Couche mince métallique
  • Metallic thin films
  • Couche mince
  • Thin film
  • Capa fina
  • Facteur qualité
  • Q factor
  • Factor calidad
  • Guide onde coplanaire
  • Coplanar waveguides
  • Ligne coplanaire
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  • Mesure circuit intégré
  • Integrated circuit measurement
  • Paramètre s
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  • Parámetro s
  • Résonateur
  • Resonator
  • Resonador
  • Coplanar waveguide (CPW)
  • microwave frequency
  • monolithic microwave integrated circuits (MMICs)
  • quality factor (Q-factor)
  • thin metal film
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Thin Film and Nanoelectronics Laboratory, School of Electrical and Computer Engineering, University of Tehran, 14174 Tehran, Iran, Islamic Republic of ; Photonics Research Laboratory, Center of Excellence on Electromagnetics Systems, School of Electrical and Computer Engineering, College of Engineering, University of Tehran, 14174 Tehran, Iran, Islamic Republic of ; Thin Film and Nanoelectronics Laboratory and the Nano-Electronic Center of Excellence, School of Electrical and Computer Engineering, College of Engineering, University of Tehran, 14174 Tehran, Iran, Islamic Republic of
  • Rights: Copyright 2015 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics

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