Analysis of Phase Noise Degradation Considering Switch Transistor Capacitances for CMOS Voltage Controlled Oscillators : Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies

MURAKAMI, Rui ; HARA, Shoichi ; et al.

In: IEICE transactions on electronics, Jg. 93 (2010), Heft 6, S. 777-784

academicJournal - print, 9 ref

In this paper we present a study on the design optimization of voltage-controlled oscillators. The phase noise of LC-type oscillators is basically limited by the quality factor of inductors. It has been experimentally shown that higher-Q inductors can be achieved at higher frequencies while the oscillation frequency is limited by parasitic capacitances. In this paper, the minimum transistor size and the degradation of the quality factor caused by a switched-capacitor array are analytically estimated, and the maximum oscillation frequency of VCOs is also derived from an equivalent circuit by considering parasitic capacitances. According to the analytical evaluation, the phase noise of a VCO using a 65 nm CMOS is 2 dB better than that of a 180 nm CMOS.

Titel:	Analysis of Phase Noise Degradation Considering Switch Transistor Capacitances for CMOS Voltage Controlled Oscillators : Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies
Autor/in / Beteiligte Person:	MURAKAMI, Rui ; HARA, Shoichi ; OKADA, Kenichi ; MATSUZAWA, Akira
Link:	View record from PASCAL Archive
Zeitschrift:	IEICE transactions on electronics, Jg. 93 (2010), Heft 6, S. 777-784
Veröffentlichung:	Oxford: Oxford University Press, 2010
Medientyp:	academicJournal
Umfang:	print, 9 ref
ISSN:	0916-8524 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Sciences appliquees Applied sciences Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Transistors Circuits intégrés Integrated circuits Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais Design. Technologies. Operation analysis. Testing Circuits électriques, optiques et optoélectroniques Electric, optical and optoelectronic circuits Propriétés des circuits Circuit properties Circuits électroniques Electronic circuits Oscillateurs, résonateurs, synthétiseurs Oscillators, resonators, synthetizers Circuits de commutation, de multiplexage, à capacités commutées Switching, multiplexing, switched capacity circuits Bobine inductance Inductor Bobina inductancia Bruit phase Phase noise Ruido fase Capacité parasite Spurious capacity Capacidad parásita Capacité électrique Capacitance Capacitancia Circuit capacité commutée Switched capacitor networks Commutateur Selector switch Conmutador Conception optimale Optimal design Concepción optimal Endommagement Damaging Deterioración Facteur qualité Q factor Factor calidad Fréquence oscillation Oscillation frequency Frecuencia oscilación Oscillateur commande tension Voltage controlled oscillator Oscilador comando tensión Schéma équivalent Equivalent circuit Esquema equivalente Technologie MOS complémentaire Complementary MOS technology Tecnología MOS complementario Transistor CMOS VCO inductor multiple divide phase noise quality factor switched capacitor
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Article File Description: text Language: English Author Affiliations: Department of Physical Electronics, Tokyo Institute of Technology, Tokyo, 152-8552, Japan Rights: Copyright 2015 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Electronics

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