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Fabrication of Bulk-Si FinFET using CMOS compatible process

ZHOU, HUAJIE ; SONG, YI ; et al.
In: Microelectronic engineering, Jg. 94 (2012), S. 26-28
academicJournal - print, 10 ref

Titel:
Fabrication of Bulk-Si FinFET using CMOS compatible process
Autor/in / Beteiligte Person: ZHOU, HUAJIE ; SONG, YI ; XU, QIUXIA ; LI, YONGLIANG ; YIN, HUAXIANG
Link:
Zeitschrift: Microelectronic engineering, Jg. 94 (2012), S. 26-28
Veröffentlichung: Amsterdam: Elsevier, 2012
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 10 ref
ISSN: 0167-9317 (print)
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide
  • Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
  • Transistors
  • Circuits intégrés
  • Integrated circuits
  • Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais
  • Design. Technologies. Operation analysis. Testing
  • Canal court
  • Short channel
  • Canal corto
  • Concentration impureté
  • Impurity density
  • Concentración impureza
  • Diminution coût
  • Cost lowering
  • Reducción costes
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  • Concentration effect
  • Efecto concentración
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  • High performance
  • Alto rendimiento
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  • Manufacturing process
  • Procedimiento fabricación
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  • Tecnología silicio sobre aislante
  • Transistor MOSFET
  • MOSFET
  • Transistor grille double
  • Dual gate transistor
  • Transistor de compuerta doble
  • 8530T
  • Effet DIBL
  • DIBL effect
  • Bulk
  • FinFET
  • Multi-gate
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Key Laboratory of Microelectronics Devices & Integrated Technology, Institute of Microelectronics, Chinese Academy of Sciences, Beijing 100029, China
  • Rights: Copyright 2015 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics

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