Zum Hauptinhalt springen

Porous Silicon in a Semiconductor Manufacturing Environment

BOEHRINGER, Matthias ; ARTMANN, Hans ; et al.
In: Journal of microelectromechanical systems, Jg. 21 (2012), Heft 6, S. 1375-1381
Online academicJournal - print, 12 ref

Titel:
Porous Silicon in a Semiconductor Manufacturing Environment
Autor/in / Beteiligte Person: BOEHRINGER, Matthias ; ARTMANN, Hans ; WITT, Kevin
Link:
Zeitschrift: Journal of microelectromechanical systems, Jg. 21 (2012), Heft 6, S. 1375-1381
Veröffentlichung: New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2012
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 12 ref
ISSN: 1057-7157 (print)
Schlagwort:
  • Electronics
  • Electronique
  • Mechanics acoustics
  • Mécanique et acoustique
  • Physics
  • Physique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Generalites
  • General
  • Instruments, appareillage, composants et techniques communs à plusieurs branches de la physique et de l'astronomie
  • Instruments, apparatus, components and techniques common to several branches of physics and astronomy
  • Techniques, équipements et instruments mécaniques
  • Mechanical instruments, equipment and techniques
  • Systèmes et dispositifs micromécaniques
  • Micromechanical devices and systems
  • Acide fluorhydrique
  • Hydrofluoric acid
  • Capteur pression
  • Pressure sensors
  • Dispositif microélectromécanique
  • Microelectromechanical device
  • Dispositivo microelectromecánico
  • Epaisseur couche
  • Layer thickness
  • Espesor capa
  • Fabrication industrielle
  • Manufacturing
  • Fabrication microélectronique
  • Microelectronic fabrication
  • Fabricación microeléctrica
  • Matériau poreux
  • Porous materials
  • Mesure pression
  • Pressure measurement
  • Microusinage
  • Micromachining
  • Prototypage rapide
  • Rapid prototyping
  • Prototipificación rápida
  • Reproductibilité
  • Reproducibility
  • Reproductividad
  • Semiconducteur
  • Semiconductor materials
  • Silicium
  • Silicon
  • Technologie MOS complémentaire
  • Complementary MOS technology
  • Tecnología MOS complementario
  • Transducteur enfoui
  • Embedded transducer
  • Transductor embebido
  • Matériau nanoporeux
  • Nanoporous materials
  • CMOS manufacturing
  • microelectromechanical devices
  • microelectromechanical systems (MEMS)
  • micromachining
  • porous semiconductors
  • porous silicon (PSi)
  • pressure sensors
  • silicon
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Robert Bosch GmbH, 72703 Reutlingen, Germany ; The Thompson Group, Kalispell, MT 59901, United States
  • Rights: Copyright 2014 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Metrology

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -