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Charge-controlled fixation of DNA molecules on silicon surface and electro-physical properties of Au―DNA―Si interface

BAZLOV, N. V ; VYVENKO, O. F ; et al.
In: Applied surface science, Jg. 267 (2013), S. 224-228
academicJournal - print, 9 ref

Titel:
Charge-controlled fixation of DNA molecules on silicon surface and electro-physical properties of Au―DNA―Si interface
Autor/in / Beteiligte Person: BAZLOV, N. V ; VYVENKO, O. F ; SOKOLOV, P. A ; KAS'YANENKO, N. A ; PETROV, Yu V
Link:
Zeitschrift: Applied surface science, Jg. 267 (2013), S. 224-228
Veröffentlichung: Amsterdam: Elsevier, 2013
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 9 ref
ISSN: 0169-4332 (print)
Schlagwort:
  • General chemistry, physical chemistry
  • Chimie générale, chimie physique
  • Crystallography
  • Cristallographie cristallogenèse
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjects
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjets
  • Condensed state physics
  • Physique de l'état condensé
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Physique
  • Physics
  • Etat condense: structure, proprietes mecaniques et thermiques
  • Condensed matter: structure, mechanical and thermal properties
  • Etat condense: structure electronique, proprietes electriques, magnetiques et optiques
  • Condensed matter: electronic structure, electrical, magnetic, and optical properties
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Diode barrière Schottky
  • Schottky barrier diodes
  • Etat interface
  • Interface states
  • Silicium
  • Silicon
  • Si
  • Admittance
  • DNA fixation
  • Interface state
  • Schottky diode
  • Silicon surface
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: V.A. Fok Institute of Physics, Saint-Petersburg State University, Ulyanovskaya 1, 198504 Saint-Petersburg, Russian Federation
  • Rights: Copyright 2014 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Physics and materials science ; Physics of condensed state: electronic structure, electrical, magnetic and optical properties ; Physics of condensed state: structure, mechanical and thermal properties

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