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Structural and charge transport characteristics of graphene layers obtained from CVD thin film and bulk graphite materials

TYURNINA, Anastasia V ; TSUKAGOSHI, Kazuhito ; et al.
In: Carbon (New York, NY), Jg. 52 (2013), S. 49-55
academicJournal - print, 34 ref

Titel:
Structural and charge transport characteristics of graphene layers obtained from CVD thin film and bulk graphite materials
Autor/in / Beteiligte Person: TYURNINA, Anastasia V ; TSUKAGOSHI, Kazuhito ; HIURA, Hidefumi ; OBRAZTSOU, Alexander N
Link:
Zeitschrift: Carbon (New York, NY), Jg. 52 (2013), S. 49-55
Veröffentlichung: Kidlington: Elsevier, 2013
Medientyp: academicJournal
Umfang: print, 34 ref
ISSN: 0008-6223 (print)
Schlagwort:
  • Chemistry
  • Chimie
  • Energy
  • Énergie
  • Chemical industry parachemical industry
  • Industrie chimique et parachimique
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjects
  • Nanotechnologies, nanostructures, nanoobjets
  • Physics
  • Physique
  • Sciences exactes et technologie
  • Exact sciences and technology
  • Domaines interdisciplinaires: science des materiaux; rheologie
  • Cross-disciplinary physics: materials science; rheology
  • Science des matériaux
  • Materials science
  • Matériaux particuliers
  • Specific materials
  • Fullerènes et matériaux apparentés; diamants, graphite
  • Fullerenes and related materials; diamonds, graphite
  • Méthodes de dépôt de films et de revêtements; croissance de films et épitaxie
  • Methods of deposition of films and coatings; film growth and epitaxy
  • Dépôt chimique en phase vapeur (incluant le cvd activé par plasma, mocvd, etc.)
  • Chemical vapor deposition (including plasma-enhanced cvd, mocvd, etc.)
  • Sciences appliquees
  • Applied sciences
  • Electronique
  • Electronics
  • Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide
  • Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices
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  • Carrier mobility
  • Méthode PECVD
  • PECVD
  • Phénomène transport
  • Transport processes
  • Spectre Raman
  • Raman spectra
  • Spectrométrie Raman
  • Raman spectroscopy
  • Transistor effet champ
  • Field effect transistors
  • 8105U
  • 8530T
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: PASCAL Archive
  • Sprachen: English
  • Original Material: INIST-CNRS
  • Document Type: Article
  • File Description: text
  • Language: English
  • Author Affiliations: Department of Physics, M.V. Lomonosov Moscow State University, Moscow 119991, Russian Federation ; International Center for Materials Nanoarchitectonics, National Institute for Materials Science, Tsukuba 305-0044, Japan ; Green Innovation Research Laboratories, NEC Corporation, Tsukuba 305-8501, Japan ; Department of Physics and Mathematics, University of Eastern Finland, Joensuu 80101, Finland
  • Rights: Copyright 2015 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS
  • Notes: Electronics ; Physics and materials science

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