A Feed-Forward Time Amplifier Using a Phase Detector and Variable Delay Lines : Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies

NIITSU, Kiichi ; HARIGAI, Naohiro ; et al.

In: IEICE transactions on electronics, Jg. 96 (2013), Heft 6, S. 920-922

academicJournal - print, 7 ref

This paper describes a high-speed, robust, scalable, and low-cost feed-forward time amplifier that uses phase detectors and variable delay lines. The amplifier works by detecting the time difference between two rising input edges with a phase detector and adjusting the delay of the variable delay line accordingly. A test chip was designed and fabricated in 65 nm CMOS. The measured resulting performance indicates that it is possible to amplify time difference while maintaining high-speed operation.

Titel:	A Feed-Forward Time Amplifier Using a Phase Detector and Variable Delay Lines : Analog Circuits and Related SoC Integration Technologies
Autor/in / Beteiligte Person:	NIITSU, Kiichi ; HARIGAI, Naohiro ; YAMAGUCHI, Takahiro J ; KOBAYASHI, Haruo
Link:	View record from PASCAL Archive
Zeitschrift:	IEICE transactions on electronics, Jg. 96 (2013), Heft 6, S. 920-922
Veröffentlichung:	Oxford: Oxford University Press, 2013
Medientyp:	academicJournal
Umfang:	print, 7 ref
ISSN:	0916-8524 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Sciences appliquees Applied sciences Essais, mesure, bruit et fiabilité Testing, measurement, noise and reliability Electronique des semiconducteurs. Microélectronique. Optoélectronique. Dispositifs à l'état solide Semiconductor electronics. Microelectronics. Optoelectronics. Solid state devices Circuits intégrés Integrated circuits Conception. Technologies. Analyse fonctionnement. Essais Design. Technologies. Operation analysis. Testing Circuits électriques, optiques et optoélectroniques Electric, optical and optoelectronic circuits Propriétés des circuits Circuit properties Circuits électroniques Electronic circuits Amplificateurs Amplifiers Circuits de conditionnement de caractéristiques des signaux (incluant les circuits à retard) Circuits of signal characteristics conditioning (including delay circuits) Amplificateur Amplifier Amplificador Boucle anticipation Feedforward Ciclo anticipación Circuit intégré Integrated circuit Circuito integrado Conception circuit intégré Integrated circuit design Conception pour test Design for testability Diminution coût Cost lowering Reducción costes Détecteur phase Phase detector Detector fase Evaluation performance Performance evaluation Evaluación prestación Extensibilité Scalability Estensibilidad Ligne retard Delay line Línea retardo Retard variable Variable delay Retardo variable Technologie MOS complémentaire Complementary MOS technology Tecnología MOS complementario Temps retard Delay time Tiempo retardo CMOS design for testability feed-forward integrated circuits time amplifier
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Article File Description: text Language: English Author Affiliations: Nagoya University, Nagoya-shi, 464-8603, Japan ; Gunma University, Kiryu-shi, 376-8515, Japan Rights: Copyright 2014 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Electronics

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