Vector Network Analyzer Calibration Using a Line and Two Offset Reflecting Loads

PULIDO-GAYTAN, Manuel Alejandro ; REYNOSO-HERNANDEZ, J. Apolinar ; et al.

In: IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 61 (2013), Heft 9, S. 3417-3423

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In this paper, the line-offset offset-open offset-short (LZZ) calibration technique for vector network analyzers (VNA) is introduced. The LZZ uses as calibration standards a fully known transmission line and two offset reflecting loads. The mathematical formulation of the LZZ is based on the use of ABCD-parameters for modeling the imperfect VNA as well as calibration standards. As a result, it is shown that the error coefficients characterizing the imperfect VNA can be calculated by comparing the estimated impedance of the two loads with the characteristic impedance of the transmission line. In order to validate the proposed method, the line―relfect―line (LRL) and the line-reflect-reflect-match (LRRM) calibration techniques are used. A high correlation between the S-parameters of a heterostructure field-effect transistor corrected with the LRL, LRRM, and LZZ techniques up to 45 GHz is achieved.

Titel:	Vector Network Analyzer Calibration Using a Line and Two Offset Reflecting Loads
Autor/in / Beteiligte Person:	PULIDO-GAYTAN, Manuel Alejandro ; REYNOSO-HERNANDEZ, J. Apolinar ; ZARATE-DE LANDA, Andrés ; LOO-YAU, J. R ; DEL CARMEN MAYA-SANCHEZ, María
Link:	Volltext View record from PASCAL Archive
Zeitschrift:	IEEE transactions on microwave theory and techniques, Jg. 61 (2013), Heft 9, S. 3417-3423
Veröffentlichung:	New York, NY: Institute of Electrical and Electronics Engineers, 2013
Medientyp:	academicJournal
Umfang:	print, 25 ref
ISSN:	0018-9480 (print)
Schlagwort:	Electronics Electronique Optics Optique Telecommunications Télécommunications Sciences exactes et technologie Exact sciences and technology Sciences appliquees Applied sciences Circuits électriques, optiques et optoélectroniques Electric, optical and optoelectronic circuits Propriétés des circuits Circuit properties Circuits hyperfréquences, circuits intégrés hyperfréquences, lignes de transmission hyperfréquences, circuits à ondes submillimétriques Microwave circuits, microwave integrated circuits, microwave transmission lines, submillimeter wave circuits Analyseur réseau Network analyzer Analizador red Etalonnage Calibration Contraste Impédance caractéristique Characteristic impedance Impedancia característica Ligne transmission Transmission line Línea transmisión Mesure hyperfréquence Microwave measurement Modèle mathématique Mathematical model Modelo matemático Modélisation Modeling Modelización Méthode vectorielle Vector method Método vectorial Paramètre s s parameter Parámetro s Transistor effet champ hétérojonction Heterojunction field effect transistor Transistor efecto campo heterounión ABCD-parameters microwave measurements scattering parameters vector network analyzer (VNA) calibration techniques
Sonstiges:	Nachgewiesen in: PASCAL Archive Sprachen: English Original Material: INIST-CNRS Document Type: Article File Description: text Language: English Author Affiliations: Center for Scientific Research and Higher Education at Ensenada (CICESE), Baja California, 22080 Ensenada, Mexico ; Center for Research and Advanced Studies of the National Polytechnic Institute (CINVESTAV)—Campus Guadalajara, 07360 Guadalajara, Mexico Rights: Copyright 2014 INIST-CNRS ; CC BY 4.0 ; Sauf mention contraire ci-dessus, le contenu de cette notice bibliographique peut être utilisé dans le cadre d’une licence CC BY 4.0 Inist-CNRS / Unless otherwise stated above, the content of this bibliographic record may be used under a CC BY 4.0 licence by Inist-CNRS / A menos que se haya señalado antes, el contenido de este registro bibliográfico puede ser utilizado al amparo de una licencia CC BY 4.0 Inist-CNRS Notes: Electronics

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