In situ pulsed Raman study of the growth process of diamond films in a microwave plasma assisted CVD reactor
In: Analusis (Imprimé), Jg. 23 (1995), Heft 7, S. 325-332
academicJournal
- print, 41 ref
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Un dispositif expérimental a été conçu pour analyser in situ la croissance de couches minces de diamant dans un réacteur CVD assisté par un plasma micro-ondes par spectroscopie Raman. Pour cela, nous avons utilisé un laser Nd :YAG pulsé. Chaque tir laser est synchronisé avec l'ouverture du spectromètre. On peut ainsi obtenir des informations en temps réel sur la couche mince en cours de croissance au travers de l'émission du plasma et de l'émission thermique du substrat (la température du substrat est comprise entre 700 et 1000°C) qui sont des phénomènes 10 à 100 fois plus lumineux que l'émission Raman. A l'aide de ce dispositif expérimental, nous sommes capables de détecter de 15 à 30 μg/cm2 de diamant en surface d'un substrat. Nous avons étudié la croissance de quelques couches de diamant sur un substrat d'alumine α. L'allure des spectres nous donne des informations sur l'incorporation de phases parasites, l'intensité des signaux sur la cinétique de croissance, la position de la raie Raman du diamant sur l'état de contrainte dans la couche en cours de croissance.
Titel: |
In situ pulsed Raman study of the growth process of diamond films in a microwave plasma assisted CVD reactor
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Autor/in / Beteiligte Person: | MERMOUX, M ; FAYETTE, L ; MARCUS, B ; ROSMAN, N ; ABELLO, L ; LUCAZEAU, G |
Link: | |
Zeitschrift: | Analusis (Imprimé), Jg. 23 (1995), Heft 7, S. 325-332 |
Veröffentlichung: | Les Ulis: EDP Sciences, 1995 |
Medientyp: | academicJournal |
Umfang: | print, 41 ref |
ISSN: | 0365-4877 (print) |
Schlagwort: |
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Sonstiges: |
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