MOS器件直接隧穿栅电流及其对CMOS逻辑电路的影响

唐东峰张平龙志林胡仕刚吴笑峰

In: 中南大学学报：自然科学版 / Journal of Central South University：Science and Technology, Jg. 44 (2013), Heft 4, S. 1438

academicJournal

Titel:	MOS器件直接隧穿栅电流及其对CMOS逻辑电路的影响
Autor/in / Beteiligte Person:	唐东峰张平龙志林胡仕刚吴笑峰
Link:	http://lib.cqvip.com/qk/90745B/201304/45720472.html
Zeitschrift:	中南大学学报：自然科学版 / Journal of Central South University：Science and Technology, Jg. 44 (2013), Heft 4, S. 1438
Veröffentlichung:	2013
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	1672-7207 (print)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: China Science & Technology Journal Database Alternate Title: Direct tunneling gate current of MOSFET and its impact on CMOS logic circuit

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