Untersuchung des physikalischen Verhaltens von lateralen Vierschichtstrukturen zum Schutz vor elektrostatischen Entladungen in CMOS integrierten Schaltungen

Erich Reichl.

1994

Hochschulschrift

Titel:	Untersuchung des physikalischen Verhaltens von lateralen Vierschichtstrukturen zum Schutz vor elektrostatischen Entladungen in CMOS integrierten Schaltungen
Verantwortlichkeitsangabe:	Erich Reichl.
Autor/in / Beteiligte Person:	Reichl, Erich ; Eidgenössische Technische Hochschule Zürich
Veröffentlichung:	1994
Medientyp:	Hochschulschrift
Sonstiges:	Nachgewiesen in: Center for Research Libraries Sprachen: German Degree: doctoral -- Eidgenössische Technische Hochschule Zürich -- 1994.

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