Zum Hauptinhalt springen

CFIEE: An Open-Source Critical Metadata Extraction Tool for RISC-V Hardware-Based CFI Schemes

Li, Wenxin ; Wang, Weike ; et al.
In: Electronics, Jg. 13 (2024-04-01), Heft 9, S. 1681-1681
Online academicJournal

Titel:
CFIEE: An Open-Source Critical Metadata Extraction Tool for RISC-V Hardware-Based CFI Schemes
Autor/in / Beteiligte Person: Li, Wenxin ; Wang, Weike ; Li, Senyang
Link:
Zeitschrift: Electronics, Jg. 13 (2024-04-01), Heft 9, S. 1681-1681
Veröffentlichung: MDPI AG, 2024
Medientyp: academicJournal
ISSN: 2079-9292 (print)
DOI: 10.3390/electronics13091681
Schlagwort:
  • RISC-V
  • control flow integrity
  • basic block
  • control flow graph
  • Electronics
  • TK7800-8360
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: Directory of Open Access Journals
  • Sprachen: English
  • Collection: LCC:Electronics
  • Document Type: article
  • File Description: electronic resource
  • Language: English

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

oder
oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

oder
oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.

xs 0 - 576
sm 576 - 768
md 768 - 992
lg 992 - 1200
xl 1200 - 1366
xxl 1366 -