A physics-based numerical modeling of total ionizing dose effects in CMOS integrated circuits

Cassani, M.V. ; Salomone, L. Sambuco ; et al.

In: Argentine Conference on Electronics (CAE); (2023-03-09) S. 41-45

Konferenz

Titel:	A physics-based numerical modeling of total ionizing dose effects in CMOS integrated circuits
Autor/in / Beteiligte Person:	Cassani, M.V. ; Salomone, L. Sambuco ; Carbonetto, S. ; Redin, E. ; Faigon, A. ; Garcia-Inza, M.
Quelle:	Argentine Conference on Electronics (CAE); (2023-03-09) S. 41-45
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-9954-7 (print)
DOI:	10.1109/CAE56623.2023.10086970
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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