Effect of Surface Field on Breakdown for CMOS Single Photon Avalanche Diodes

Hasan, Sajid ; Nizam, Andalib ; et al.

In: SoutheastCon 2023; (2023-04-01) S. 736-743

Konferenz

Titel:	Effect of Surface Field on Breakdown for CMOS Single Photon Avalanche Diodes
Autor/in / Beteiligte Person:	Hasan, Sajid ; Nizam, Andalib ; McFarlane, Nicole ; Ara Shawkat, Mst Shamim
Quelle:	SoutheastCon 2023; (2023-04-01) S. 736-743
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-6654-7611-9 (print)
ISSN:	1558-058X (print)
DOI:	10.1109/SoutheastCon51012.2023.10115115
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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