A 10-Gb/s 275-fsec Jitter Cryo-CMOS Charge-Sampling CDR for Quantum Computing Application

De Jong, L. ; Bas, J.I. ; et al.

In: IEEE Microwave and Wireless Technology Letters, Jg. 33 (2023-06-01), Heft 6, S. 875-878

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Titel:	A 10-Gb/s 275-fsec Jitter Cryo-CMOS Charge-Sampling CDR for Quantum Computing Application
Autor/in / Beteiligte Person:	De Jong, L. ; Bas, J.I. ; Gong, J. ; Sebastiano, F. ; Babaie, M.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Microwave and Wireless Technology Letters, Jg. 33 (2023-06-01), Heft 6, S. 875-878
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	2771-957X (print) ; 2771-9588 (print)
DOI:	10.1109/LMWT.2023.3267842
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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