IMPACT: A 1-to-4b 813-TOPS/W 22-nm FD-SOI Compute-in-Memory CNN Accelerator Featuring a 4.2-POPS/W 146-TOPS/mm2 CIM-SRAM With Multi-Bit Analog Batch-Normalization

Kneip, A. ; Lefebvre, M. ; et al.

In: IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-07-01), Heft 7, S. 1871-1884

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Titel:	IMPACT: A 1-to-4b 813-TOPS/W 22-nm FD-SOI Compute-in-Memory CNN Accelerator Featuring a 4.2-POPS/W 146-TOPS/mm2 CIM-SRAM With Multi-Bit Analog Batch-Normalization
Autor/in / Beteiligte Person:	Kneip, A. ; Lefebvre, M. ; Verecken, J. ; Bol, D.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Journal of Solid-State Circuits, Jg. 58 (2023-07-01), Heft 7, S. 1871-1884
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9200 (print) ; 1558-173X (print)
DOI:	10.1109/JSSC.2023.3269098
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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