Machine Learning Techniques for Pre-CTS Identification of Timing Critical Flip-Flops

Fu, Chunkai ; Trombley, Ben ; et al.

In: IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI); (2023-06-20) S. 1-6

Konferenz

Titel:	Machine Learning Techniques for Pre-CTS Identification of Timing Critical Flip-Flops
Autor/in / Beteiligte Person:	Fu, Chunkai ; Trombley, Ben ; Xiang, Hua ; Nam, Gi-Joon ; Hu, Jiang
Quelle:	IEEE Computer Society Annual Symposium on VLSI (ISVLSI); (2023-06-20) S. 1-6
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-2769-4 (print)
ISSN:	2159-3477 (print)
DOI:	10.1109/ISVLSI59464.2023.10238658
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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