Electrostatic Discharge Stress Effects on the Performance and Reliability of High Performance NPN SiGe HBTs

Ioannou, Dimitris P. ; Gebreselasie, Ephrem ; et al.

In: IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS); (2023-10-16) S. 245-248

Konferenz

Wie komme ich dran?

Titel:	Electrostatic Discharge Stress Effects on the Performance and Reliability of High Performance NPN SiGe HBTs
Autor/in / Beteiligte Person:	Ioannou, Dimitris P. ; Gebreselasie, Ephrem ; Pham, Vinh ; Raghunathan, Uppili S.
Quelle:	IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS); (2023-10-16) S. 245-248
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-0764-1 (print)
ISSN:	2831-4999 (print)
DOI:	10.1109/BCICTS54660.2023.10310696
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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