Microstrip and Grounded CPW Calibration Kit Comparison for On-Wafer Transistor Characterization from 220 GHz to 325 GHz

Jones, Rob D. ; Cheron, Jerome ; et al.

In: IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS); (2023-10-16) S. 124-127

Konferenz

Wie komme ich dran?

Titel:	Microstrip and Grounded CPW Calibration Kit Comparison for On-Wafer Transistor Characterization from 220 GHz to 325 GHz
Autor/in / Beteiligte Person:	Jones, Rob D. ; Cheron, Jerome ; Bosworth, Bryan T. ; Jamroz, Benjamin F. ; Williams, Dylan F. ; Urteaga, Miguel E. ; Feldman, Ari D. ; Aaen, Peter H.
Quelle:	IEEE BiCMOS and Compound Semiconductor Integrated Circuits and Technology Symposium (BCICTS); (2023-10-16) S. 124-127
Veröffentlichung:	2023
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-0764-1 (print)
ISSN:	2831-4999 (print)
DOI:	10.1109/BCICTS54660.2023.10310853
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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