A CPW Resonator for Complex Dielectric Characterization of Thin Films at W-Band

Nasr, A.M.H. ; Sarabandi, K.

In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 73 (2024), S. 1-11

Online academicJournal

Zugriff:

Volltext

Titel:	A CPW Resonator for Complex Dielectric Characterization of Thin Films at W-Band
Autor/in / Beteiligte Person:	Nasr, A.M.H. ; Sarabandi, K.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 73 (2024), S. 1-11
Veröffentlichung:	2024
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9456 (print) ; 1557-9662 (print)
DOI:	10.1109/TIM.2024.3351231
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

Klicken Sie ein Format an und speichern Sie dann die Daten oder geben Sie eine Empfänger-Adresse ein und lassen Sie sich per Email zusenden.

BibTeX Citavi, JabRef, u.a.
(Literaturverwaltung)

PDF kein Volltext!
(Merkzettel, Notizen)

RIS Endnote, Citavi u.a.
(Literaturverwaltung)

MODS
(XML zur Weiterverarbeitung)

oder

Wählen Sie das für Sie passende Zitationsformat und kopieren Sie es dann in die Zwischenablage, lassen es sich per Mail zusenden oder speichern es als PDF-Datei.

Gewünschter Zitations-Stil:

oder

Bitte prüfen Sie, ob die Zitation formal korrekt ist, bevor Sie sie in einer Arbeit verwenden. Benutzen Sie gegebenenfalls den "Exportieren"-Dialog, wenn Sie ein Literaturverwaltungsprogramm verwenden und die Zitat-Angaben selbst formatieren wollen.