Highly Reliable Nanoelectrothermal Non-Volatile Memory with CMOS-level Voltage and Low On-State Resistance

Lee, Yong-Bok ; Choi, Pan-Kyu ; et al.

In: IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS); (2024-01-21) S. 525-528

Konferenz

Titel:	Highly Reliable Nanoelectrothermal Non-Volatile Memory with CMOS-level Voltage and Low On-State Resistance
Autor/in / Beteiligte Person:	Lee, Yong-Bok ; Choi, Pan-Kyu ; Gang, Min-Ho ; Kim, Su-Hyun ; Lee, Seung-Jun ; Kim, Tae-Soo ; Lee, So-Young ; Yoon, Jun-Bo
Quelle:	IEEE 37th International Conference on Micro Electro Mechanical Systems (MEMS); (2024-01-21) S. 525-528
Veröffentlichung:	2024
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-5792-9 (print)
ISSN:	2160-1968 (print)
DOI:	10.1109/MEMS58180.2024.10439351
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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