Impact of Co-Integration on the Performance of Full CMOS Based Hybrid SET-FET Circuits for Scalable Quantum Computing using FinFET Technologies

Singh, Sujit Kumar ; Sharma, Deepesh ; et al.

In: 8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM); (2024-03-03) S. 1-3

Konferenz

Titel:	Impact of Co-Integration on the Performance of Full CMOS Based Hybrid SET-FET Circuits for Scalable Quantum Computing using FinFET Technologies
Autor/in / Beteiligte Person:	Singh, Sujit Kumar ; Sharma, Deepesh ; Srinivasan, P. ; Dixit, Abhisek
Quelle:	8th IEEE Electron Devices Technology & Manufacturing Conference (EDTM); (2024-03-03) S. 1-3
Veröffentlichung:	2024
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	979-8-3503-7152-9 (print)
DOI:	10.1109/EDTM58488.2024.10511467
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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