SafeMem: exploiting ECC-memory for detecting memory leaks and memory corruption during production runs

Qin, Feng ; Lu, Shan ; et al.

In: Proceedings. 11th International Symposium on High-Performance Computer Architecture; (2005) S. 291-302

Konferenz

Titel:	SafeMem: exploiting ECC-memory for detecting memory leaks and memory corruption during production runs
Autor/in / Beteiligte Person:	Qin, Feng ; Lu, Shan ; Zhou, Yuanyuan
Quelle:	Proceedings. 11th International Symposium on High-Performance Computer Architecture; (2005) S. 291-302
Veröffentlichung:	2005
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	0-7695-2275-0 (print) ; 978-0-7695-2275-3 (print)
ISSN:	1530-0897 (print) ; 2378-203X (print)
DOI:	10.1109/HPCA.2005.29
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: Proceedings. 11th International Symposium on High-Performance Computer Architecture

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