Unusual capacitance emission transients in CIGS caused by large defect entropy changes

Young, D.L. ; Ramanathan, Kannan ; et al.

In: Conference Record of the Thirty-First IEEE Photovoltaic Specialists Conference; (2005) S. 259-262

Konferenz

Titel:	Unusual capacitance emission transients in CIGS caused by large defect entropy changes
Autor/in / Beteiligte Person:	Young, D.L. ; Ramanathan, Kannan ; Crandall, R.B.
Quelle:	Conference Record of the Thirty-First IEEE Photovoltaic Specialists Conference; (2005) S. 259-262
Veröffentlichung:	2005
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	0-7803-8707-4 (print) ; 978-0-7803-8707-2 (print)
ISSN:	0160-8371 (print)
DOI:	10.1109/PVSC.2005.1488118
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: Conference Record of the Thirty-First IEEE Photovoltaic Specialists Conference

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