Leakage Reduction in Sub-100nm CMOS Technologies: Bridging the Gap Between Technology, Circuit Design and Low Power Product Requirements

Pacha, Christian ; Berthold, Jorg

In: IEEE International Electron Devices Meeting; (2007-12-01) S. 645-645

Konferenz

Titel:	Leakage Reduction in Sub-100nm CMOS Technologies: Bridging the Gap Between Technology, Circuit Design and Low Power Product Requirements
Autor/in / Beteiligte Person:	Pacha, Christian ; Berthold, Jorg
Quelle:	IEEE International Electron Devices Meeting; (2007-12-01) S. 645-645
Veröffentlichung:	2007
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4244-1507-6 (print) ; 978-1-4244-1508-3 (print)
ISSN:	0163-1918 (print) ; 2156-017X (print)
DOI:	10.1109/IEDM.2007.4419024
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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