Fault localization by Dynamic Laser Stimulation extended testing

Perdu, P.

In: 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); (2009-07-01) S. 182

Konferenz

Wie komme ich dran?

Titel:	Fault localization by Dynamic Laser Stimulation extended testing
Autor/in / Beteiligte Person:	Perdu, P.
Quelle:	16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA); (2009-07-01) S. 182
Veröffentlichung:	2009
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4244-3911-9 (print) ; 978-1-4244-3912-6 (print)
ISSN:	1946-1542 (print) ; 1946-1550 (print)
DOI:	10.1109/IPFA.2009.5232671
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 2009 16th IEEE International Symposium on the Physical and Failure Analysis of Integrated Circuits (IPFA)

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