Electromagnetic Topology combined with Mode Matching for the electromagnetic field penetration analysis of an aperture backed cavity

Park, Yoon-Mi ; Lee, Younju ; et al.

In: IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC 2009; (2009-08-01) S. 121

Konferenz

Titel:	Electromagnetic Topology combined with Mode Matching for the electromagnetic field penetration analysis of an aperture backed cavity
Autor/in / Beteiligte Person:	Park, Yoon-Mi ; Lee, Younju ; So, Joonho ; Cheon, Changyul ; Chung, Young-Seek ; Jung, Hyun-Kyo
Quelle:	IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC 2009; (2009-08-01) S. 121
Veröffentlichung:	2009
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4244-4266-9 (print)
ISSN:	2158-110X (print) ; 2158-1118 (print)
DOI:	10.1109/ISEMC.2009.5284664
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 2009 IEEE International Symposium on Electromagnetic Compatibility - EMC 2009

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