A method to adapt Zth-junction-to-ambient curves to varying ambient conditions

Schweitzer, Dirk

In: IEEE/CPMT 28th Semiconductor Thermal Measurement & Management Symposium (SEMI-THERM); (2012-03-01) S. 205-211

Konferenz

Titel:	A method to adapt Zth-junction-to-ambient curves to varying ambient conditions
Autor/in / Beteiligte Person:	Schweitzer, Dirk
Quelle:	IEEE/CPMT 28th Semiconductor Thermal Measurement & Management Symposium (SEMI-THERM); (2012-03-01) S. 205-211
Veröffentlichung:	2012
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4673-1109-0 (print) ; 978-1-4673-1110-6 (print) ; 978-1-4673-1111-3 (print)
ISSN:	1065-2221 (print)
DOI:	10.1109/STHERM.2012.6188850
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 2012 IEEE/CPMT 28th Semiconductor Thermal Measurement & Management Symposium (SEMI-THERM)

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