Influence of waveguide width errors on TRL and LRL calibrations

Stenarson, J. ; Yhland, K. ; et al.

In: 79th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG); (2012-06-01) S. 1-3

Konferenz

Titel:	Influence of waveguide width errors on TRL and LRL calibrations
Autor/in / Beteiligte Person:	Stenarson, J. ; Yhland, K. ; Do, T. N. T. ; Zhao, H. ; Sobis, P. ; Stake, J.
Quelle:	79th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG); (2012-06-01) S. 1-3
Veröffentlichung:	2012
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4673-1230-1 (print) ; 978-1-4673-1229-5 (print) ; 978-1-4673-1231-8 (print)
DOI:	10.1109/ARFTG79.2012.6291182
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 2012 79th ARFTG Microwave Measurement Conference (ARFTG)

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