20GHz on-chip measurement of ESD waveform for system level analysis

Caignet, F. ; Nolhier, N. ; et al.

In: 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD); (2013-09-01) S. 1-9

Konferenz

Titel:	20GHz on-chip measurement of ESD waveform for system level analysis
Autor/in / Beteiligte Person:	Caignet, F. ; Nolhier, N. ; Wang, A. ; Mauran, N.
Quelle:	35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD); (2013-09-01) S. 1-9
Veröffentlichung:	2013
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-58537-232-4 (print)
ISSN:	0739-5159 (print)
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 2013 35th Electrical Overstress/Electrostatic Discharge Symposium (EOS/ESD)

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