Analysis and design considerations of static CMOS logics under process, voltage and temperature variation in 90nm CMOS process

Yang, Wei-Bin ; Lin, Yu-Yao ; et al.

In: International Conference on Information Science, Electronics and Electrical Engineering (ISEEE); Jg. 3 (2014-04-01) S. 1653-1656

Konferenz

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Titel:	Analysis and design considerations of static CMOS logics under process, voltage and temperature variation in 90nm CMOS process
Autor/in / Beteiligte Person:	Yang, Wei-Bin ; Lin, Yu-Yao ; Lo, Yu-Lung
Quelle:	International Conference on Information Science, Electronics and Electrical Engineering (ISEEE); Jg. 3 (2014-04-01) S. 1653-1656
Veröffentlichung:	2014
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-4799-3196-5 (print) ; 978-1-4799-3195-8 (print) ; 978-1-4799-3197-2 (print)
DOI:	10.1109/InfoSEEE.2014.6946202
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library Relation: 2014 International Conference on Information Science, Electronics and Electrical Engineering (ISEEE)

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