Total-dose radiation tolerance of a commercial 0.35 /spl mu/m CMOS process

Lacoe, R.C. ; Osborn, J.V. ; et al.

In: IEEE Radiation Effects Data Workshop. NSREC 98. Workshop Record. Held in conjunction with IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference; (1998) S. 104-110

Konferenz

Wie komme ich dran?

Titel:	Total-dose radiation tolerance of a commercial 0.35 /spl mu/m CMOS process
Autor/in / Beteiligte Person:	Lacoe, R.C. ; Osborn, J.V. ; Mayer, D.C. ; Brown, S. ; Hunt, D.R.
Quelle:	IEEE Radiation Effects Data Workshop. NSREC 98. Workshop Record. Held in conjunction with IEEE Nuclear and Space Radiation Effects Conference; (1998) S. 104-110
Veröffentlichung:	1998
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	0-7803-5109-6 (print) ; 978-0-7803-5109-7 (print)
DOI:	10.1109/REDW.1998.731487
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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