Built-in self-test for multiple CLB faults of a LUT type FPGA
In: Proceedings Seventh Asian Test Symposium (ATS'98); (1998) S. 272-277
Konferenz
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Titel: |
Built-in self-test for multiple CLB faults of a LUT type FPGA
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Autor/in / Beteiligte Person: | Itazaki, N. ; Matsuki, F. ; Matsumoto, Y. ; Kinoshita, K. |
Quelle: | Proceedings Seventh Asian Test Symposium (ATS'98); (1998) S. 272-277 |
Veröffentlichung: | 1998 |
Medientyp: | Konferenz |
ISBN: | 0-8186-8277-9 (print) ; 978-0-8186-8277-3 (print) |
ISSN: | 1081-7735 (print) |
DOI: | 10.1109/ATS.1998.741624 |
Sonstiges: |
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