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Measured surface transfer impedance of multi-pin Micro-D Subminiature and LFH/sup TM/ connector assemblies at frequencies up to 1 GHz

Hoeft, L.O. ; Knighten, J.L. ; et al.
In: Proceedings of 1999 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC'99); Jg. 2 (1999) S. 577-582
Konferenz

Titel:
Measured surface transfer impedance of multi-pin Micro-D Subminiature and LFH/sup TM/ connector assemblies at frequencies up to 1 GHz
Autor/in / Beteiligte Person: Hoeft, L.O. ; Knighten, J.L. ; Ahmad, M.
Quelle: Proceedings of 1999 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC'99); Jg. 2 (1999) S. 577-582
Veröffentlichung: 1999
Medientyp: Konferenz
ISBN: 0-7803-5057-X (print) ; 978-0-7803-5057-1 (print)
DOI: 10.1109/ISEMC.1999.810079
Sonstiges:
  • Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library
  • Relation: Proceedings of 1999 International Symposium on Electromagnetic Compatibility (EMC'99)

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