Connecting software metrics across versions to predict defects

Liu, Yibin ; Li, Yanhui ; et al.

In: IEEE 25th International Conference on Software Analysis, Evolution and Reengineering (SANER); (2018-03-01) S. 232-243

Konferenz

Wie komme ich dran?

Titel:	Connecting software metrics across versions to predict defects
Autor/in / Beteiligte Person:	Liu, Yibin ; Li, Yanhui ; Guo, Jianbo ; Zhou, Yuming ; Xu, Baowen
Quelle:	IEEE 25th International Conference on Software Analysis, Evolution and Reengineering (SANER); (2018-03-01) S. 232-243
Veröffentlichung:	2018
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-5386-4969-5 (print)
DOI:	10.1109/SANER.2018.8330212
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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