RF Small- and Large-Signal Characteristics of CPW and TFMS Lines on Trap-Rich HR-SOI Substrates

Kazemi Esfeh, B. ; Rack, M. ; et al.

In: IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), Heft 8, S. 3120-3126

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Titel:	RF Small- and Large-Signal Characteristics of CPW and TFMS Lines on Trap-Rich HR-SOI Substrates
Autor/in / Beteiligte Person:	Kazemi Esfeh, B. ; Rack, M. ; Ben Ali, K. ; Allibert, F. ; Raskin, J.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Electron Devices, Jg. 65 (2018-08-01), Heft 8, S. 3120-3126
Veröffentlichung:	2018
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9383 (print) ; 1557-9646 (print)
DOI:	10.1109/TED.2018.2845679
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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