Synopsis of Multiphysics Deep Sub-Micron Failure Rate Modeling Technique for CFR and EOL Prediction

Musil, Mark ; Bensoussan, Alain ; et al.

In: IEEE 13th Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC); (2018-10-01) S. 1-4

Konferenz

Titel:	Synopsis of Multiphysics Deep Sub-Micron Failure Rate Modeling Technique for CFR and EOL Prediction
Autor/in / Beteiligte Person:	Musil, Mark ; Bensoussan, Alain ; Bernstein, Joseph ; Coccetti, Fabio
Quelle:	IEEE 13th Nanotechnology Materials and Devices Conference (NMDC); (2018-10-01) S. 1-4
Veröffentlichung:	2018
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-5386-1016-9 (print) ; 978-1-5386-1015-2 (print)
DOI:	10.1109/NMDC.2018.8605877
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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