Generative Adversarial Networks With Comprehensive Wavelet Feature for Fault Diagnosis of Analog Circuits

He, W. ; He, Y. ; et al.

In: IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 69 (2020-09-01), Heft 9, S. 6640-6650

Online academicJournal

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Titel:	Generative Adversarial Networks With Comprehensive Wavelet Feature for Fault Diagnosis of Analog Circuits
Autor/in / Beteiligte Person:	He, W. ; He, Y. ; Li, B.
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Zeitschrift:	IEEE Transactions on Instrumentation and Measurement, Jg. 69 (2020-09-01), Heft 9, S. 6640-6650
Veröffentlichung:	2020
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9456 (print) ; 1557-9662 (print)
DOI:	10.1109/TIM.2020.2969008
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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