Experimental Study of the Effect of Interconnects on Phase Noise of K-Band VCO in $0.18\ \mu \mathrm{m}$ CMOS Technology

Chen, Baichuan ; Jahan, Nusrat ; et al.

In: IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC); (2019-12-01) S. 1670-1672

Konferenz

Titel:	Experimental Study of the Effect of Interconnects on Phase Noise of K-Band VCO in $0.18\ \mu \mathrm{m}$ CMOS Technology
Autor/in / Beteiligte Person:	Chen, Baichuan ; Jahan, Nusrat ; Barakat, Adel ; Pokharel, Ramesh K.
Quelle:	IEEE Asia-Pacific Microwave Conference (APMC); (2019-12-01) S. 1670-1672
Veröffentlichung:	2019
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-7281-3517-5 (print) ; 978-1-7281-3516-8 (print)
DOI:	10.1109/APMC46564.2019.9038781
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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