Resistor analysis and simulation of HVR in the snubber circuit of Large-scale Superconductor Test Facility

Wang, Kun ; Tong, Wei ; et al.

In: IEEE 3rd International Electrical and Energy Conference (CIEEC); (2019-09-01) S. 439-444

Konferenz

Titel:	Resistor analysis and simulation of HVR in the snubber circuit of Large-scale Superconductor Test Facility
Autor/in / Beteiligte Person:	Wang, Kun ; Tong, Wei ; Wang, Shusheng ; Song, Zhiquan ; Fu, Peng ; Li, Hua ; Zhang, Xiuqing
Quelle:	IEEE 3rd International Electrical and Energy Conference (CIEEC); (2019-09-01) S. 439-444
Veröffentlichung:	2019
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-7281-1674-7 (print) ; 978-1-7281-1675-4 (print)
DOI:	10.1109/CIEEC47146.2019.CIEEC-2019196
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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