Single-bit Laser Fault Model in NOR Flash Memories: Analysis and Exploitation

Menu, Alexandre ; Dutertre, Jean-Max ; et al.

In: Workshop on Fault Detection and Tolerance in Cryptography (FDTC); (2020-09-01) S. 41-48

Konferenz

Titel:	Single-bit Laser Fault Model in NOR Flash Memories: Analysis and Exploitation
Autor/in / Beteiligte Person:	Menu, Alexandre ; Dutertre, Jean-Max ; Rigaud, Jean-Baptiste ; Colombier, Brice ; Moellic, Pierre-Alain ; Danger, Jean-Luc
Quelle:	Workshop on Fault Detection and Tolerance in Cryptography (FDTC); (2020-09-01) S. 41-48
Veröffentlichung:	2020
Medientyp:	Konferenz
ISBN:	978-1-7281-9562-9 (print)
DOI:	10.1109/FDTC51366.2020.00013
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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