A SiGe HBT 215–240 GHz DCA IQ TX/RX Chipset With Built-In Test of USB/LSB RF Asymmetry for 100+ Gb/s Data Rates

Grzyb, J. ; Rodriguez-Vazquez, P. ; et al.

In: IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 70 (2022-03-01), Heft 3, S. 1696-1714

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Titel:	A SiGe HBT 215–240 GHz DCA IQ TX/RX Chipset With Built-In Test of USB/LSB RF Asymmetry for 100+ Gb/s Data Rates
Autor/in / Beteiligte Person:	Grzyb, J. ; Rodriguez-Vazquez, P. ; Malz, S. ; Andree, M. ; Pfeiffer, U.R.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Microwave Theory and Techniques, Jg. 70 (2022-03-01), Heft 3, S. 1696-1714
Veröffentlichung:	2022
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0018-9480 (print) ; 1557-9670 (print)
DOI:	10.1109/TMTT.2021.3127897
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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