Data Representation Aware of Damage to Extend the Lifetime of MLC NAND Flash Memory

Zhou, B. ; Ye, T. ; et al.

In: IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 41 (2022-11-01), Heft 11, S. 5005-5015

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Titel:	Data Representation Aware of Damage to Extend the Lifetime of MLC NAND Flash Memory
Autor/in / Beteiligte Person:	Zhou, B. ; Ye, T. ; Wan, S. ; He, X. ; Xiao, W. ; Xie, C.
Link:	Volltext
Zeitschrift:	IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems, Jg. 41 (2022-11-01), Heft 11, S. 5005-5015
Veröffentlichung:	2022
Medientyp:	academicJournal
ISSN:	0278-0070 (print) ; 1937-4151 (print)
DOI:	10.1109/TCAD.2021.3139847
Sonstiges:	Nachgewiesen in: IEEE Xplore Digital Library

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